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FAT (Prueba de Aceptación de Fábrica) realizada en menos tiempo

Marco de solución de automatización de equipos que cumple con los estándares SEMI GEM, y que redujo el tiempo necesario para realizar la prueba de aceptación de fábrica y logró que los equipos fueran aceptados en un plazo corto.  

Habilitación del Teach Pendant

Facilitación del uso del teach pendant para los operadores en una fábrica. Este software se utilizará para múltiples generaciones de controladores robóticos.

Soluciones DaaS para aumentar la productividad.

Fortune 100 genera importantes ingresos adicionales de la plataforma Device-as-a-Service que desarrollamos conjuntamente para computadoras portátiles.

AV Systems Software Development Center & Test Automation

Un líder mundial en sistemas de audio y vídeo de alta gama buscaba un partner estratégico. Quest Global entregó una unidad completamente funcional en 12 meses 

Automatización de Pruebas

Un marco de automatización de pruebas para dispositivos informáticos que aumentó la velocidad de ejecución de las pruebas. 

Realidad Aumentada

AR360: una plataforma para implementar y gestionar fácilmente soluciones RA/RV. Reducción del 30% del tiempo de instalación y mantenimiento.

Internet de las cosas

Habilitamos el Internet de las Cosas mediante la transformación de cosas comunes como chaquetas, mochilas y zapatos para brindar una experiencia digital mejorada a los usuarios finales y para generar nuevas fuentes de ingresos para los fabricantes.

Garantía de Calidad

Partner de Garantía de Calidad para uno de los tres principales fabricantes de dispositivos HiFi con laboratorios especializados en el extranjero, que supuso un 20% menos de errores a través de la automatización.

Desarrollo del primer Android de alta seguridad para dispositivos móviles

Primer Android de Alta Seguridad diseñado desde cero para superar las muchas deficiencias de seguridad del proyecto de código abierto de Android (AOSP). 

Keyboard Hotkey Support UWP App & Driver Solution

A deep learning network based on CNN to detect and classify defects present in scanning electron microscope images.